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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：塔瑪薩崎Otsuka大塚電位儀
產(chǎn)品型號：澤塔電位測量系統(tǒng) ELSZ-2000Z
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

該裝置可用于用稀釋溶液到濃縮溶液測量Zeta電位。測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現(xiàn)高精度 Zeta 電位測量。此外，在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。

詳情介紹：

特點

*新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間
通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析
可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進行測量
支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量
通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果，用于測量單元中的電滲透流
支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量
支持小面積樣品的平板Zeta電位測量

用途

它非常適合在界面化學(xué)、無機材料、半導(dǎo)體、聚合物、生物、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域進行基礎(chǔ)和應(yīng)用研究，不僅處理細顆粒，還處理薄膜和平板樣品的表面科學(xué)。

新型功能材料
燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
生物納米相關(guān)（納米膠囊、樹突、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等
陶瓷和著色材料工業(yè)
陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）
無機溶膠的表面改性、分散和聚合控制
顏料（炭黑和有機顏料）的分散和聚合控制
漿料樣品
彩色濾光片
懸浮礦物的收集材料吸附研究
半導(dǎo)體領(lǐng)域
硅晶片表面異物附著的機理闡明
研磨劑、添加劑與晶圓表面相互作用的研究
CMP漿料
聚合物和化學(xué)工業(yè)
乳液（涂料和粘合劑）的分散和聚合控制、乳膠表面改性（醫(yī)藥和工業(yè)）
聚合物電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等）的功能研究、功能性納米顆粒
造紙和紙漿造紙工藝控制以及紙漿添加劑研究
制藥和食品工業(yè)
乳液（食品、香料、醫(yī)療和化妝品）的分散和聚集控制、蛋白質(zhì)功能

脂質(zhì)體和囊泡的分散和聚合控制、表面活性劑（云蘇）的功能

規(guī)格

測量原理	電泳光散射法（激光多普勒法）
光學(xué)	異質(zhì)光學(xué)
光源	大功率半導(dǎo)體激光器
探測器	高靈敏度 APD
單元格	標準單元、微量分配單元或濃縮單元
溫度	0 至 90°C（帶梯度功能）
電源	100V ± 10% 250VA
尺寸（WDH）	380（W)×600（D)×210（H)
重量	22 kg

測量項目

澤塔電位	-200 ～ +200 mV
電流動性	-2×10 ^-5～ 2×10 ^-5 cm²/V.s

測量范圍

測量溫度范圍	0 ～ 90℃
測量濃度范圍	澤塔電位：0.001%~40%

*1（Latex112nm：0.00001 至 10%，牛磺酸：~40%）

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產(chǎn)品名稱：塔瑪薩崎Otsuka大塚電位儀

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