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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA、ELSZneo，粒徑測量儀，ZETA電位儀
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子浙江代理粒度分析儀SAQLA、ELSZneo，粒徑測量儀，ZETA電位儀
代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風(fēng)速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機(jī)）、NS精密科學(xué)（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵） 、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井
優(yōu)勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品，聯(lián)系人：張小姐
聯(lián)系電話（微信）：15902189399
nanoSAQLA是一種采用動態(tài)光散射法（DLS法）的粒度測量裝置（粒徑0.6nm~10μm）。
配備各種功能，進(jìn)一步追求質(zhì)量控制的需求。
它實現(xiàn)了一種新的光學(xué)系統(tǒng)，支持從精益~濃縮系統(tǒng)到實驗室必不可少的寬濃度范圍內(nèi)的多樣品測量，重量輕，小型化，并以1分鐘高速測量為標(biāo)準(zhǔn)。
此外，它是一種非浸入式的新產(chǎn)品，不受污染的影響，并且標(biāo)配“連續(xù)測量5個樣品”，無需自動進(jìn)樣器。
| 型 | 多樣品納米粒度測量系統(tǒng) |
| 測量原理 | 動態(tài)光散射（光子相關(guān)法） |
| 光源 | 高功率二極管激光器（660nm，70mW） *1 |
| 探測器 | 高靈敏度 APD |
| 連續(xù)測量 | *多 5 個樣品 |
| 測量范圍 | 0.6納米~10微米 |
| 濃度范圍 | 0.00001 ~ 40% *2 |
| 溫度范圍 | 0 ~ 90°C （帶溫度梯度功能） *3 |
| 樣品容量 | 方形電池： 1.2mL~， 微量電池： 20μL~ |
| 大小 | 寬240 X 長480 X 高375毫米 |
| 功耗 | 交流 100~240V 50/60Hz、250VA |
| 重量 | 約 18 公斤 |
| 軟件 | 平均粒徑分析（累積量法） |
|
粒度分布分析 （Marquardt/Contin/NNLS/Unimodal） |
|
| 粒度分布覆蓋 | |
| 負(fù)相關(guān)函數(shù)和殘差圖 | |
| 粒度監(jiān)測儀 | |
| 粒度顯示范圍（0.1~106 納米） | |
| 分子量計算功能 | |
| 兼容 21 CFR 第 11 部分 *4 | |
| 選擇 | 痕量細(xì)胞（20μL起），熒光濾光片 |
*1 本設(shè)備被歸類為激光**標(biāo)準(zhǔn)（JIS C6802）的1類。 *2 PS乳膠顆粒：0.00001~10%，牛磺膽酸：~40%
*3 使用帶有貼片細(xì)胞支架的烏鴉細(xì)胞時。
使用5桶電池支架或一次性電池時，15~40°C
*4可選
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
